1.概述

　　環(huán)境試驗箱的設(shè)計和生產(chǎn)均基于環(huán)境測試方法。隨著生產(chǎn)率的提高和國民經(jīng)濟的發(fā)展，環(huán)境測試方法日益豐富，相應的環(huán)境測試設(shè)備也在不斷增加。為了可靠，連續(xù)地進行環(huán)境測試，必須有高質(zhì)量和合格的測試設(shè)備。為了滿足該要求，需要用于測量測試設(shè)備的統(tǒng)一標準，即環(huán)境測試設(shè)備標準和環(huán)境測試。基本設(shè)備參數(shù)驗證標準。

　　我國《環(huán)境試驗設(shè)備標準》（以下簡稱《設(shè)備標準》）《鴻展儀器及電氣電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)驗證方法標準》（以下簡稱《方法標準》）于中期起草，發(fā)布并實施-1980年代。您可以在“國家標準網(wǎng)絡(luò)”上檢查貴公司要求的標準。有您需要的所有信息。在這里，我將介紹一些常用參數(shù)，供貴公司參考。

　　2.環(huán)境試驗箱標準

　　1.當前有九種環(huán)境測試設(shè)備標準：

　　GB10586-89濕熱試驗箱技術(shù)條件GB10587-89鹽霧試驗箱技術(shù)條件

　　GB10588-89霉菌試驗箱技術(shù)條件GB10589-89低溫試驗箱技術(shù)條件

　　GB10590-89低溫低壓試驗箱技術(shù)條件GB10591-89高溫低壓試驗箱技術(shù)條件

　　GB10592-89高低溫試驗箱技術(shù)條件GB11158-89高溫試驗箱技術(shù)條件

　　GB11159-89低壓試驗箱技術(shù)條件www.oven.cc

　　2.設(shè)備標準常見問題

　　1）適用范圍

　　在上述九項標準中，明確規(guī)定本標準適用于所有生產(chǎn)環(huán)境試驗設(shè)備的制造商，并應將符合本標準的產(chǎn)品作為出廠檢驗，型式檢驗和質(zhì)量監(jiān)督檢驗的依據(jù)。

　　2）適應性

　　根據(jù)設(shè)備標準合格的產(chǎn)品必須滿足相應的測試設(shè)備環(huán)境測試方法標準的要求。根據(jù)檢驗要求合格的產(chǎn)品可以運輸。

　　3）操作

　　設(shè)備標準基本上可以在實施過程中實施。同時，這種類型的標準也被設(shè)備制造商廣泛使用。

　　4）修訂后的設(shè)備標準不足

　　在1980年代起草了九種設(shè)備標準。隨著科學技術(shù)的發(fā)展，工業(yè)，農(nóng)業(yè)和其他失業(yè)產(chǎn)業(yè)的發(fā)展和需求，有必要修改設(shè)備標準。

　　3.實施過程中應注意的事項

　　1）基本環(huán)境條件的要求主要如下：

　　A）溫度：15℃?35℃

　　B）相對濕度：不超過85％RH

　　C）大氣壓：86Kpa?106Kpawww.oven.cc

　　D）熱輻射：無陽光直射，無熱源直接輻射

　　E）氣流：無強氣流，需要時不能直接吹到機柜上

　　F）電磁場：無強電磁場

　　G）三種廢物：無高濃度粉塵和腐蝕性物質(zhì)

　　H）冷卻水源：水溫不超過30℃，水壓控制在0.1?0.3Mpa

　　一）加濕水源：電阻率不小于500Ωm

　　J）電源：220±22V，380±38V，50±0.5Hz

　　2）負載要求：

　　A）負載類型：通常適用于電氣，電子產(chǎn)品或其他產(chǎn)品，零件和絕緣材料（鹽霧測試除外）

　　B）負載條件：

　　負載總重量：50?80Kg/m3

　　總裝載量：不超過工作量的1/5

　　阻塞主風管的總面積：不大于主風管所在工作室的橫截面面積的1/3

　　鹽霧測試設(shè)備：規(guī)格：50*100*（1?2）mm

　　類型：金屬

　　樣品數(shù)量：160件/m2（以工作室的水平面積測量）

　　環(huán)境試驗設(shè)備（氣候試驗設(shè)備）基本參數(shù)驗證方法標準

　　目前環(huán)境測試設(shè)備基本參數(shù)的驗證方法有六種標準：

　　GB/T5170.2-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)驗證方法溫度試驗設(shè)備

　　GB/T5170.5-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)驗證方法濕熱試驗設(shè)備

　　GB/T5170.8-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)驗證方法鹽霧試驗設(shè)備

　　GB/T5170.9-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)驗證方法太陽輻射試驗設(shè)備

　　GB/T5170.10－1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)驗證方法高低溫低壓試驗設(shè)備

　　GB/T5170.11－1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)驗證方法腐蝕性氣體試驗設(shè)備

　　2.方法標準的幾個常見問題

　　1）標準的適用范圍：六種方法標準明確規(guī)定，該類型的標準是確定環(huán)境檢驗設(shè)備在定期檢驗中的檢驗項目，檢驗儀器的選擇，檢驗條件，檢驗次數(shù)。測試點，點的位置以及驗證步驟。，數(shù)據(jù)處理和驗證結(jié)果等內(nèi)容的實現(xiàn)依據(jù)。

　　2）適應性：根據(jù)方法標準合格的設(shè)備可以在指定的期限內(nèi)繼續(xù)進行相關(guān)的環(huán)境測試。

　　3）可操作性：此類標準主要由環(huán)境測試設(shè)備用戶使用，而很少由測試設(shè)備制造商使用。

　　3.實施過程中的幾點注意事項：

　　1）每個子標準應與一般規(guī)則一起使用。

　　2）應當同時使用幾個子標準和一般規(guī)則來對復合測試設(shè)備進行定期驗證

　　3）驗證條件：一般規(guī)則規(guī)定，其內(nèi)容與設(shè)備標準一致。

　　4）負載要求：按通用規(guī)則規(guī)定，其內(nèi)容與設(shè)備標準GB11158的規(guī)定一致。